布魯克的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier專為在緊湊的平臺(tái)內(nèi)提供業(yè)界**的定量納米力學(xué)表征而設(shè)計(jì)。納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier以久經(jīng)考驗(yàn)的 Hysitron 技術(shù)為基礎(chǔ)，提供一套廣泛的納米級(jí)力學(xué)和摩擦測(cè)試技術(shù)。利用納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier的多功能配置，可以完成對(duì)各種**研究的準(zhǔn)確測(cè)量，同時(shí)提供多種技術(shù)升級(jí)選項(xiàng)，以滿足您未來(lái)表征需求。

專有電容傳感器技術(shù)在納米壓痕測(cè)試過(guò)程中提供**的測(cè)量噪聲水平（75 nN，<0.2 nm）、精度和可靠性。靜電驅(qū)動(dòng)使用很少的電流，實(shí)現(xiàn)**的溫度漂移特性，從而加快數(shù)據(jù)采集速度，獲得更高精度和更好的重復(fù)性。

（100） 硅上的五個(gè)載荷納米壓痕系列測(cè)試，顯示了納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier業(yè)界**的噪聲水平、性能和數(shù)據(jù)可重復(fù)性。

定量表征能力

布魯克開發(fā)了一套廣泛的定量表征技術(shù)，實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的納米級(jí)材料研究。

動(dòng)態(tài)力學(xué)分析： 存儲(chǔ)模量、損耗模量和損耗角作為測(cè)量深度、頻率和時(shí)間的函數(shù)。

摩擦學(xué)： 摩擦系數(shù)、耐刮擦性能、薄膜粘附力和納米級(jí)磨損。

表面形貌表征： 原位SPM成像，光學(xué)顯微鏡觀察和表面力學(xué)性能成像。

電特性： 原位接觸電阻、導(dǎo)電、相變和材料變形行為。

環(huán)境控制： 在高溫和可定制的氣態(tài)環(huán)境中，表征納米力學(xué)和納米摩擦性能。

熔融石英上的力與位移曲線顯示彈塑性材料的典型響應(yīng)，并在準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕測(cè)試后通過(guò)原位SPM成像，顯示殘余壓痕形貌。

實(shí)現(xiàn)特定功能的程序包

布魯克的納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier提供針對(duì)準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕、動(dòng)態(tài)表征、高溫表征和跨尺度測(cè)試等量身定制的特定功能程序包。這些程序包的配置經(jīng)過(guò)優(yōu)化，可提供專用解決方案，以滿足您的研究和過(guò)程控制要求。

準(zhǔn)靜態(tài)納米壓痕：針對(duì)薄膜和不均勻材料優(yōu)化的納米力學(xué)特性。

動(dòng)態(tài)特征：準(zhǔn)靜態(tài)和動(dòng)態(tài)機(jī)械特性，可對(duì)從超軟到超硬等各種材料進(jìn)行表征。

高溫特性：研究機(jī)械特性和時(shí)間基于溫度的變形行為。

跨尺度測(cè)試：在納米和微米尺度上的納米壓痕測(cè)試。

350°C（紅色）、500°C（綠色）和600°C（紫色）時(shí)的 NiCoCrAlY 載荷-位移曲線。這些曲線的低離散性和常規(guī)形狀表明 納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)Hysitron TI Premier在高溫下的高穩(wěn)定性。